ഇ-സിമ്മുകള്‍ ദുരുപയോഗം ചെയ്ത് തട്ടിപ്പുകള്‍ വ്യാപകം; മുന്നറിയിപ്പുകള്‍ നല്‍കി ഐ.ടി മന്ത്രാലയം

ന്യൂഡല്‍ഹി: ഇ-സിമ്മുകള്‍ ദുരുപയോഗം ചെയ്ത് തട്ടിപ്പുകള്‍ വ്യാപകമാകുന്നു. ഫോണില്‍ സൂക്ഷിച്ചിരിക്കുന്ന ഡിജിറ്റല്‍ സിം കാര്‍ഡുകളാണ് ഇ-സിമ്മുകള്‍ (എംബഡഡ് സിം). ഇ-സിം ഉപയോഗിച്ചുള്ള സൈബര്‍ തട്ടിപ്പുകള്‍ വ്യാപകമായതോടെ ഐ.ടി മന്ത്രാലയം മുന്നറിയിപ്പുമായി എത്തിയിരിക്കുകയാണ്. കഴിഞ്ഞയാഴ്ച ഇത്തരത്തിലുള്ള തട്ടിപ്പ് നടന്നതോടെ മുംബെ സ്വദേശിക്ക് ബാങ്ക് അക്കൗണ്ടില്‍ നിന്നും നാലുലക്ഷം രൂപ നഷ്ടമായിരുന്നു. ഇ-സിം തട്ടിയെടുത്ത് ഒ.ടി.പി (വണ്‍ ടൈം പാസ്‌വേഡ്) കൈക്കലാക്കിയായിരുന്നു തട്ടിപ്പ്. ഇതിന് പിന്നാലെയാണ് കേന്ദ്ര ആഭ്യന്തര മന്ത്രാലയത്തിന് കീഴിലുള്ള ഇന്ത്യന്‍ സൈബര്‍ ക്രൈംകോര്‍ഡിനേഷന്‍ സെന്റര്‍ (14 സി) രാജ്യത്തെ പൗരന്‍മാര്‍ക്ക് മുന്നറിയിപ്പ് പുറപ്പെടുവിച്ചത്.

തട്ടിപ്പ് നടക്കുന്നത് ഇങ്ങനെ

മൊബൈല്‍ സേവന ദാതാവില്‍ നിന്നെന്ന വ്യാജേന ഫോണ്‍ കോള്‍ മുഖേനയോ ഇരയെ ബന്ധപ്പെടുകയാണ് തട്ടിപ്പുകാര്‍ ആദ്യം ചെയ്യുക. പിന്നാലെ, എസ്.എസം.എസ് വഴിയോ ഇ.മെയില്‍ വഴിയോ വ്യാജ ഇ-സിം ആക്ടിവേഷന്‍ ലിങ്ക് അയക്കും.

ഇര ലിങ്കില്‍ ക്‌ളിക്ക് ചെയ്യുന്നതോടെ ഫിസിക്കല്‍ സിം നിര്‍ജ്ജീവമാവും. ഇതോടെ നമ്പര്‍ ഇ-സിം രൂപത്തില്‍ തട്ടിപ്പുകാരുടെ കയ്യിലാവും. വിവിധ കോളുകളും എസ്.എം.എസ് സന്ദേശവും ഒ.ടി.പികളും തട്ടിപ്പുകാര്‍ക്ക് കൈക്കലാക്കാനാവും.

ഒ.ടി.പികള്‍ കൈക്കലാക്കുന്നതോടെ ബാങ്കുകളില്‍ നിന്ന് പണം പിന്‍വലിക്കുന്നതടക്കം ഇടപാടുകള്‍ നടത്താനും പാസ്‌വേഡുകള്‍ പുനഃസജ്ജമാക്കാനും കഴിയും.

നമ്പര്‍ അപഹരിക്കപ്പെട്ടാല്‍, യു.പി.ഐ, എ.ടി.എം സേവനങ്ങള്‍ പ്രവര്‍ത്തനരഹിതമാക്കിയ ഉപയോക്താക്കള്‍ പോലും സുരക്ഷിതരല്ലെന്ന് സാങ്കേതിക വിദഗ്ദര്‍ മുന്നറിയിപ്പ് നല്‍കുന്നു.

ഇ-സിമ്മിനേക്കാള്‍ മികച്ചതാണോ ഫിസിക്കല്‍ സിം

ഇരുസാങ്കേതിക വിദ്യകളും തമ്മില്‍ സുരക്ഷാകാര്യത്തില്‍ കാര്യമായ വ്യത്യാസമില്ലെന്ന് വിദഗ്ദര്‍ ചൂണ്ടിക്കാണിക്കുന്നു. സിം സ്വാപ് അഥവാ സിം തട്ടിയെടുത്ത് നടക്കുന്ന തട്ടിപ്പുകള്‍ വര്‍ഷങ്ങളോളമായി നിലവിലുണ്ട്.

എന്നാല്‍, മാറ്റിസ്ഥാപിക്കാന്‍ എളുപ്പമുള്ളതുകൊണ്ടുതന്നെ ഇ-സിം തട്ടിയെടുക്കാന്‍ സൈബര്‍ ക്രിമിനലുകള്‍ക്ക് എളുപ്പമാണ്. ഡ്യൂപ്‌ളിക്കേറ്റ് ലഭിക്കാന്‍ സേവനദാതാവിന്റെ സ്റ്റോറില്‍ നേരിട്ട് ഹാജരാകണമെന്നുള്ളതുകൊണ്ട് തന്നെ ഫിസിക്കല്‍ സിമ്മുകള്‍ കൂടുതല്‍ സുരക്ഷിതമാണെന്നും അഭിപ്രായമുണ്ട്.

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *